| 标准号： |
BS CECC 50000 Supplement No. 1-1983 |
| 英文名称： |
Harmonized system of quality assessment for electronic components - Generic specification: discrete semiconductor devices - CECC assessed process average |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
1983-05-31 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1983-05-31 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
8P;A4 |
| 采用关系： |
CECC 50000 Supplement 1-1982,IDT |
| 内容提要（CN）： |
电子设备及元件;统计质量控制;半导体整流器;检验;评估的质量;半导体器件;半导体工艺;质量保证体系;半导体闸流管;半导体二极管;鉴定试验;工艺规范;晶体管;规范(审批);质量管理;平均值;资格鉴定 |
| 内容提要（EN）： |
Approval testing;Assessed quality;Average;Electronic equipment and components;Inspection;Process specification;Qualification approval;Quality assurance systems;Quality control;Semiconductor devices;Semiconductor diodes;Semiconductor rectifiers;Semiconductor technology;Specification (approval);Statistical quality control;Thyristors;Transistors |
| 归属： |
英国 |
