| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：薄膜集成电路和混合集成电路.内部目视检验和专用试验 |
| 标准号:BS EN 165000-2-1996 |
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| 标准号： |
BS EN 165000-2-1996 |
| 英文名称： |
Film and hybrid integrated circuits. Internal visual inspection and special tests |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>膜集成电路 |
| 发布日期： |
1996-10-15 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1996-10-15 |
| ICS分类： |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
40P.;A4 |
| 被代替标准： |
94/216399 DC-1994 |
| 采用关系： |
EN 165000-2-1996,IDT |
| 内容提要（CN）： |
宏观检查;外观检查(试验);混合集成电路;膜集成电路;腐蚀检查;探伤;能力鉴定;集成电路;试验(质量保证);放射性试验;认可试验;显微分析;电子设备及元件;定义;质量保证体系;评估的质量;质量保证;质量评估;电连接;声学检验 |
| 内容提要（EN）： |
Approval testing;Capability approval;Definitions;Electrical connections;Electrical engineering;Electronic equipment and components;Etch inspection;Examination (quality assurance);Film circuits;Flaw detection;Generic specification;Hybrid film integrated circuits;Hybrid integrated circuits;Integrated circuits;Integrated film circuits;Macroscopic examination;Microscopic analysis;Quality assessment;Quality assurance;Quality assurance systems;Quality control;Radiographic testing;Sonic testing;Testing;Visual inspection (testing) |
| 归属： |
英国 |
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