标准分类 Standards |
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中文名称:薄膜集成电路和混合集成电路.通用规范:性能鉴定程序 |
标准号:BS EN 165000-1-1996 |
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标准号: |
BS EN 165000-1-1996 |
英文名称: |
Film and hybrid integrated circuits. Generic specification. Capability approval procedure |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>膜集成电路 |
发布日期: |
1996-10-15 |
发布单位: |
GB-BSI |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
1996-10-15 |
ICS分类: |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
起草单位/标准公告: |
BSI |
正文语言: |
英语 |
页数: |
70P;A4 |
被代替标准: |
94/216398 DC-1994 |
采用关系: |
EN 165000-1-1996,IDT |
内容提要(CN): |
能力鉴定;电气工程;混合薄膜集成电路;总规范;薄膜电路;规范;集成电路;电子设备及元件 |
内容提要(EN): |
Acceptance (approval);Approval testing;Capability approval;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic equipment and components;Environmental testing;Film circuits;Generic specification;Hybrid film integrated circuits;Hybrid integrated circuits;Inspection;Integrated circuits;Integrated film circuits;Leak tests;Marking;Mechanical testing;Quality assessment;Quality assurance;Quality assurance systems;Radioactive tracer methods;Solderability testing;Specification;Specification (approval);Testing conditions;Visual inspection (testing) |
归属: |
英国 |
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