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中文名称:薄膜集成电路和混合集成电路.合格鉴定批准程序
标准号:BS EN 165000-5-1998
标准号: BS EN 165000-5-1998
英文名称: Film and hybrid integrated circuits - Procedure for qualification approval
中标分类 电子元器件与信息技术>>膜集成电路
发布日期: 1998-03-15
发布单位: GB-BSI
标准状态 请与本站工作人员进行确认
实施日期: 1998-03-15
ICS分类 集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学
起草单位/标准公告: BSI
正文语言 英语
页数: 36P.;A4
被代替标准: 97/203282 DC-1997
采用关系: EN 165000-5-1997,IDT
内容提要(CN): 膜集成电路;详细规范;性能试验;技术数据单;混合集成电路;资格鉴定;技术文献;采购;电子设备及元件;电气设备;设计;验收(鉴定);试样制备;质量评估;质量保证;评估的质量;合格;试样;再现性;集成电路;质量保证体系;检验;验证
内容提要(EN): Approval;Approval tests;Design certifications;Detail specification;Electronic equipment and components;Film circuits;Hybrid film integrated circuits;Hybrid integrated circuits;Integrated circuits;Qualification approval;Qualification testing;Specification;Thickfilm integrated circuits;Thick-film technology;Thinfilm integrated circuits;Thin-film technology;Type approval procedure;Types
归属: 英国
下载:“膜集成电路”相关标准(下载...)

BS EN 165000-5-1998 薄膜集成电路和混合集成电路.合格鉴定批准程序  
BS EN 165000-1-1996 薄膜集成电路和混合集成电路.通用规范:性能鉴定程序  
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