| 标准号： |
BS EN 62373-2006 |
| 英文名称： |
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2006-09-29 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2006-09-29 |
| ICS分类： |
三极管>>三极管 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
16P.;A4 |
| 被代替标准： |
04/30113801 DC-2004 |
| 采用关系： |
EN 62373-2006,IDT;IEC 62373-2006,IDT |
| 内容提要（CN）： |
检验设备;元部件;定义;电气工程;电子工程;电子设备和元件;场效应晶体管;极限(数学);测量设备;MOSFET;额定值;半导体器件;稳定性;温度应力;测试;测试装置;热应力;晶体管 |
| 内容提要（EN）： |
Checking equipment;Components;Definition;Definitions;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Field-effect transistors;Limits (mathematics);Measuring equipment;MOSFET;Ratings;Semiconductor devices;Stability;Temperature stress;Testing;Testing devices;Thermal stress;Transistors |
| 归属： |
英国 |
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