| 标准号： |
BS IEC 60747-14-5-2010 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2010-04-30 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2010-04-30 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
22P;A4 |
| 被代替标准： |
07/30164953 DC-2007 |
| 采用关系： |
IEC 60747-14-5-2010,IDT |
| 内容提要（CN）： |
元部件;组件;定义;耐久性;尺寸选定;分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;套圈;集成电路;布置;处理;惰性气体铠装电弧焊;作标记;测量;测量技术;光电子器件;性能;特性;评定;额定值;可靠性;可靠度;半导体器件;半导体;传感器;测头;规范(验收);符号;温度;试验;测试;痕量元素分析 |
| 内容提要（EN）： |
Components;Definitions;Dimensioning;Discrete devices;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Inspection;Integrated circuits;Layout;Marking;Measurement;Measuring techniques;Optoelectronic devices;Properties;Ratings;Reliability;Semiconductor devices;Semiconductors;Sensors;Specification (approval);Symbols;Temperature;Testing |
| 归属： |
英国 |
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