| 标准号： |
BS IEC 60747-14-1-2010 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Semiconductor sensors - Generic specification for sensors |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2010-04-30 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2010-04-30 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
26P;A4 |
| 被代替标准： |
08/30181401 DC-2008;BS IEC 60747-14-1-2000 |
| 采用关系： |
IEC 60747-14-1-2010,IDT |
| 内容提要（CN）： |
组件;连接;定义(术语);分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;总规范;检验;集成电路;布置;寿命;极限(数学);作标记;标记;测量;测量技术;额定值;半导体器件;半导体传感器;半导体;传感器;规范(验收);符号;试验 |
| 内容提要（EN）： |
Components;Connections;Definitions;Discrete devices;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Generic specification;Inspection;Integrated circuits;Layout;Life (durability);Limits (mathematics);Marking;Marks;Measurement;Measuring techniques;Ratings;Semiconductor devices;Semiconductor sensor;Semiconductors;Sensors;Specification (approval);Symbols;Testing |
| 归属： |
英国 |
