| 标准号： |
BS EN 62047-8-2011 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Strip bending test method for tensile property measurement of thin films |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2011-06-30 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2011-06-30 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
22P.;A4 |
| 采用关系： |
EN 62047-8-2011,IDT;IEC 62047-8-2011,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Bend testing;Characteristics;Components;Films;Layers;Materials;Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Microsystem techniques;Properties;Samples;Semiconductor devices;Strips;System engineering;Tensile strain;Testing;Testing conditions;Thin films;Thin-film technology |
| 归属： |
英国 |
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