| 标准号： |
IEC 60749-13 CORR 1-2003 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2003-08 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 47 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Dispositifs A Semiconducteurs - Methodes D′essais Mecaniques et Climatiques - Partie 13: Atmosphere Saline CORRIGENDUM 1 (Edition 1.0) |
| 页数： |
18P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60749-13 Corrigendum 1 (2003-08) |
| 引用标准： |
IEC 60749-13-2002 |
| 采用关系： |
CSN EN 60749-13-2003,IDT |
| 内容提要（CN）： |
电气工程;试验;电子设备及元件;破坏试验;半导体器件;机械试验;盐雾;集成电路;电学测量;电子工程;半导体;组件;气候;环境试验;气候试验 |
| 内容提要（EN）： |
electrical measurement;electronic equipment and components;mechanical testing;salt mist;electrical engineering;integrated circuits;environmental testing;testing;semiconductors;components;destructive testing;climate;climatic tests;electronic engineering;semiconductor devices |
| 内容提要（QT）： |
Bauelement;elektrische Messung;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Halbleiter;Halbleiterbauelement;integrierte Schaltung;Klima;Klimaprüfung;mechanische Prüfung;Prüfung;Prüfverfahren;Salznebel;Umweltprüfung;zerst？rende Prüfung |
| 归属： |
国际 |
