标准号: |
IEC 60747-4-2007 |
英文名称: |
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体二极管 |
发布日期: |
2007-08 |
发布单位: |
IX-IEC |
标准状态: |
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ICS分类: |
二极管>>二极管 |
起草单位/标准公告: |
IEC/SC 47E |
正文语言: |
双语(英,法) |
原文名称: |
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets – Partie 4: Diodes et transistors hyperfréquences (Edition 2.0) |
页数: |
279P.;A4 |
附注: |
History:IEC 60747-4 (2007-08);IEC 47E/330/FDIS (2007-05);IEC 47E/281/CDV (2005-05);IEC 60747-4 Edition 1.2 (2001-09);IEC 60747-4 AMD 2 (1999-04);IEC 47E/123/FDIS (1998-12);IEC 47E/41/CDV (1996-03);IEC 60747-4 AMD 1 (1993-10);IEC/DIS 47(CO)1251 (1991-09);IEC/DIS 47(CO)1280 (1991-08);IEC/DIS 47(CO)1290 (1991-07);IEC 60747-4 (1991-04) |
被代替标准: |
IEC 60747-4 Edition 1.2-2001;IEC 60747-4 AMD 2-1999;IEC 60747-4 AMD 1-1993;IEC 60747-4-1991 |
引用标准: |
IEC 60050-702-1992;IEC 60747-1-2006;IEC 60747-7-2000;IEC 60747-8-2000;IEC 60747-16-1-2001 |
采用关系: |
BS IEC 60747-4-2008,IDT |
内容提要(CN): |
验收检验;雪崩二极管;双极晶体管;元件;连续性试验;定义;二极管;分立装置;电气工程;电气测量;电子工程;电子设备及元件;场效应晶体管;耿二极管;检验;集成电路;极限(数学);作标记;测量;测量技术;微波晶体管;混频器二极管;合格试验;额定值;可靠度;常规检验试验;半导体装置;半导体;规范(验收);符号;晶体管 |
内容提要(EN): |
Acceptance inspection;Avalanche diodes;Bipolar transistors;Components;Continuity tests;Definition;Definitions;Diodes;Discrete devices;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Field-effect transistors;Gunn diodes;Inspection;Integrated circuits;Limits (mathematics);Marking;Measurement;Measuring techniques;Microwave transistors;Mixer diode;Qualification tests;Ratings;Reliability;Routine check tests;Semiconductor devices;Semiconductors;Specification (approval);Symbols;Transistors |
内容提要(QT): |
Abnahmeprüfung;Anforderung;Avalanchediode;Bauelement;Begriffe;Bipolartransistor;Dauerprüfung;Definition;Diode;Einzelbauelement;elektrische Messung;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Feldeffekttransistor;Grenzwert;Gunn-Diode;Gunndiode;Halbleiter;Halbleiterbauelement;integrierte Schaltung;Kenndaten;Kennwert;Kennzeichnung;Kurzzeichen;Messung;Messverfahren;Mikrowellentransistor;Mischdiode;Qualit?tsprüfung;Stückprüfung;Symbol;Transistor;Typprüfung;Zuverl?ssigkeit |
归属: |
国际 |