| 标准号： |
BS IEC 60747-4-2008 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Discrete devices - Microwave diodes and transistors |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2008-02-29 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2008-02-29 |
| ICS分类： |
二极管>>二极管 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
140P.;A4 |
| 被代替标准： |
04/30118741 DC-2004;BS 6493-1.4-1992 |
| 采用关系： |
IEC 60747-4-2007,IDT |
| 内容提要（CN）： |
验收检验;雪崩二极管;双极晶体管;元件;连续性试验;定义;二极管;分立器件;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;场效应晶体管;耿二极管;检验;集成电路;极限(数学);作标记;测量;测量技术;微波晶体管;混频器二极管;合格试验;额定值;可靠度;常规检验;半导体器件;半导体;规范(验收);符号;晶体管 |
| 内容提要（EN）： |
Acceptance inspection;Avalanche diodes;Bipolar transistors;Components;Continuity tests;Definition;Definitions;Diodes;Discrete devices;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Field-effect transistors;Gunn diodes;Inspection;Integrated circuits;Limits (mathematics);Marking;Measurement;Measuring techniques;Microwave transistors;Mixer diode;Qualification tests;Ratings;Reliability;Routine check tests;Semiconductor devices;Semiconductors;Specification (approval);Symbols;Transistors |
| 归属： |
英国 |
