| 标准号： |
IEC 60747-5-5 AMD 1-2013 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2013-05 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47E |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 5-5: Optoelektronische Bauelemente - Optokoppler |
| 页数： |
8P;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-5-5 AMD 1 (2013-05);IEC 47E/437/CDV (2012-05);IEC 47E/421A/CD (2011-09);IEC 47E/421/CD (2011-09) |
| 被代替标准： |
IEC 47E/437/CDV-2012 |
| 采用关系： |
DIN EN 60747-5-5-2015,IDT;14/30313278 DC-2014,IDT;BS EN 60747-5-5+A1-2011,NEQ;EN 60747-5-5/A1-2015,IDT;EN 60747-5-5/FprA1-2014,IDT;NF C96-005-5/A1-2015,IDT;OEVE/OENORM EN 60747-5-5-2015,IDT;OEVE/OENORM EN 60747-5-5/A1-2014,IDT;PN-EN 60747-5-5/A1-2015,IDT;CSN EN 60747-5-5-2011,IDT;DS/EN 60747-5-5-2015,IDT;NEN-EN-IEC 60747-5-5:2011/A1:2015 en-2015,IDT |
| 内容提要（CN）： |
频带宽度;分立器件;显示装置;电气工程;电性能;电性质和电现象;电气安全;电子设备及元件;环境条件;绝缘电阻;绝缘测试;绝缘电压;集成电路;发光强度;测量技术;光电子器件;光耦合器;防电击;额定值;安全性;安全装置;安全性要求;半导体器件;试验 |
| 内容提要（EN）： |
Bandwidths;Discrete devices;Display devices;Electrical engineering;Electrical properties;Electrical properties and phenomena;Electrical safety;Electronic equipment and components;Environmental condition;Insulating resistance;Insulation test;Insulation voltage;Integrated circuits;Luminous intensity;Measuring techniques;Optoelectronic devices;Photocouplers;Protection against electric shocks;Ratings;Safety;Safety devices;Safety requirements;Semiconductor devices;Testing |
| 内容提要（QT）： |
Bandbreite;Einzelbauelement;elektrische Eigenschaft;elektronisches Bauelement;Elektroschutz;Elektrotechnik;Halbleiterbauelement;integrierter Schaltkreis;Isolationsprüfung;Isolationsspannung;Isolationswiderstand;Kenndaten;Lichtst？rke;Messverfahren;optoelektronische Baueinheit;Optokoppler;Prüfung;Prüfverfahren;Sicherheit;Sicherheitsanforderung;Sicherheitseinrichtung;Sichtanzeige;Umgebungsbedingung |
| 归属： |
国际 |
