| 标准号： |
EN 62047-20-2014 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 20: Gyroscopes (IEC 62047-20:2014); German version EN 62047-20:2014 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2015-04 |
| 发布单位： |
EN |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 20: Gyroskope (IEC 62047-20:2014); Deutsche Fassung EN 62047-20:2014 |
| 页数： |
55P.;A4 |
| 附注： |
History:DIN EN 62047-20 (2015-04);DIN EN 62047-20 (2012-07) |
| 被代替标准： |
EN 62047-20-2012 |
| 引用标准： |
IEEE 952-1997;IPC J-STD-020D-1-2008;ISO 16063-15-2006 |
| 采用关系： |
DIN EN 62047-20-2015,IDT;IEC 62047-20-2014,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Definitions;Electrical engineering;Gyroscopes;Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Microsystem techniques;Ratings;Reliability;Semiconductor devices |
| 内容提要（QT）： |
Begriffe;Definition;Elektrotechnik;Gyroskop;Halbleiterbauelement;Kenndaten;Messung;Messverfahren;Mikroelektronik;Mikrosystemtechnik;Zuverlassigkeit |
下载：“半导体分立器件综合”相关标准( 下载...)
下载“半导体器件综合”相关标准(下载...)
|
