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中文名称:半导体器件.微型机电装置.电子罗盘
标准号:BS EN 62047-19-2013
标准号: BS EN 62047-19-2013
英文名称: Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Electronic compasses
中标分类 电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合
发布日期: 2013-10-31
发布单位: GB-BSI
标准状态 请与本站工作人员进行确认
实施日期: 2013-10-31
ICS分类 机电零部件综合>>机电零部件综合
起草单位/标准公告: BSI
正文语言 英语
页数: 34P;A4
采用关系: EN 62047-19-2013,IDT;IEC 62047-19-2013,IDT
内容提要(CN): 自动化;通信技术;罗盘;组件;定义;电气工程;电性能;机电的;电子的;环境;总规范;信息处理;信息技术;极限(数学);磁的;材料;测量技术;微电子学;微系统工艺;显微技术;移动的;参数;特性;半导体器件;传感器;规范(验收);系统工程;薄膜
内容提要(EN): Automation;Communication technology;Compasses;Components;Definitions;Electrical engineering;Electrical properties;Electromechanical;Electronic;Environment;Generic specification;Information processing;Information technology;Limits (mathematics);Magnetic;Materials;Measuring techniques;Microelectronics;Microsystem techniques;Microtechnique;Mobile;Parameters;Properties;Semiconductor devices;Sensors;Specification (approval);System engineering;Thin films
归属: 英国
下载:“半导体分立器件综合”相关标准(下载...)

ASTM D3004-2008(2013) 挤制热固性和热塑性半导体和绝缘屏蔽的标准规范  
ASTM F615M-1995(2013) 测定在半导体元件上喷镀金属的安全电流脉冲操作区域的标准实施规范 (米制)  
ASTM E1161-2009(2014) 半导体和电子元件射线检验的标准实施规程  
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ASTM F615M-1995(2013) 测定在半导体元件上喷镀金属的安全电流脉冲操作区域的标准实施规范 (米制)  
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IEC 60749-17-2019 半导体器件. 机械和气候试验方法. 第17部分: 中子辐照  
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ISO/TS 11308-2011 纳米技术.热重量分析法测定单层壁碳纳米管的特性  
ISO/TS 11888-2017 纳米技术.根据细观形状因数确定多层壁碳纳米管的特性  

 

下载“机电零部件综合”相关标准(下载...)

ASTM F3291-2017 测量薄膜力开关的力位移的标准试验方法  
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JB/T 5835-2005 电力半导体器件用门极组合件  
BS EN 62047-19-2013 半导体器件.微型机电装置.电子罗盘  
BS 5772-9-1993 电子设备用机电元件规范:基本试验规程和测量方法.杂项试验  
BS 5772-5-1993 电子设备用机电元件规范:基本试验程序和测量方法.冲击试验(非固定元件)、静负载试验(固定元件)、耐久性试验和过载试验  
BS EN 60512-8-3-2011 电子设备用连接器.试验和测量.静荷载试验(固定连接器).测试8c.启动杆稳健性  

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