标准号: |
NF C96-022-13-2018 |
英文名称: |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13 : salt atmosphere |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
发布日期: |
2018-04-13 |
发布单位: |
FR-AFNOR |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
2018-07-13 |
ICS分类: |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
正文语言: |
法语 |
原文名称: |
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : atmosphère saline |
页数: |
18P.;A4 |
被代替标准: |
NF C96-022-13-2002 |
引用标准: |
IEC 60749-14 |
采用关系: |
EN IEC 60749-13-2018,IDT;IEC 60749-13-2018,IDT |
内容提要(EN): |
Corrosion tests;Mounting;Salt-spray tests;Assembling;Enclosures;Semiconductor devices;Test specimens;Accelerated testing;Testing conditions;Test duration |
内容提要(QT): |
DISPOSITIF SEMI-CONDUCTEUR;ESSAI DE CORROSION;ESSAI EN ATMOSPHERE SALINE;ESSAI ACCELERE;CONDITIONS D'ESSAI;DUREE D'ESSAI;ENCEINTE;MONTAGE;SPECIMEN D'ESSAI;Duree d'essai;Eprouvette d'essai;Essai au brouillard salin;Essai au jet d'eau salee;Prise d'essai;Specimen d'essai;Essai accelere |
归属: |
法国 |