| 标准号： |
NF C96-022-12-2002 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12 : vibration, variable frequency. |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2002-12-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2002-12-05 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Dispositifs ? semiconducteurs. Méthodes d'essais mécaniques et climatiques. Partie 12 : vibrations, fréquences variables |
| 页数： |
7P.;A4 |
| 代替标准： |
NF C96-022-12-2018 |
| 被代替标准： |
NF C96-022-1999;NF C96-022/A1-2002;NF C96-022/A2-2002 |
| 采用关系： |
EN 60749-12-2002,IDT;IEC 60749-12-2002,IDT |
| 内容提要（CN）： |
电气工程;元部件;半导体器件;电子设备及元件;破坏试验;机械试验;振动;电学测量;集成电路;气候试验;气候;环境试验;半导体;试验;电子工程 |
| 内容提要（EN）： |
Climate;Climatic tests;Components;Destructive testing;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental testing;Integrated circuits;Mechanical testing;Semiconductor devices;Semiconductors;Testing;Vibration |
| 归属： |
法国 |
