| 标准号： |
NF C96-022-12-2018 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12 : vibration, variable frequency |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2018-03-09 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2018-09-29 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 正文语言： |
法语 |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12 : vibrations, fréquences variables |
| 页数： |
10P.;A4 |
| 被代替标准： |
NF C96-022-12-2002 |
| 采用关系： |
EN IEC 60749-12-2018,IDT;IEC 60749-12-2017,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Testing conditions;Vibration tests;Vibration testing;Failure (quality control);Electronic equipment and components;Failure (mechanical);Vibration resistance tests;Mechanical testing;Destructive testing;Semiconductor devices |
| 内容提要（QT）： |
MATERIEL ELECTRONIQUE;DISPOSITIF SEMI-CONDUCTEUR;ESSAI MECANIQUE;ESSAI DE VIBRATION;ESSAI DESTRUCTIF;MODE OPERATOIRE;DEFAILLANCE;Defaillance mecanique;Materiel et composants electroniques;Conditions d'essai;Panne;Defaillance (controle de qualite);Essai mecanique |
| 归属： |
法国 |
