| 标准号： |
IEC 60749-13-2018 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2018-0201 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 47 Halbleiterbauelemente;IEC/TC 47 Semiconductor devices;CEI/CE 47 Dispositifs à semiconducteurs |
| 正文语言： |
双语(英,法) |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13: Atmosphère saline |
| 页数： |
28P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60749-13-2018-02;IEC 47/2446/FDIS-2017-11;IEC 47/2377/CDV-2017-04;IEC 60749-13 CORR 1-2003-08;IEC 60749-13-2002-04;IEC 47/1599/FDIS-2002-01;IEC/PAS 62183-2000-08;IEC 47/1537A/CDV-2000-07;IEC 47/1537/CDV-2000-07 |
| 被代替标准： |
IEC 47/2446/FDIS-2017;IEC 60749-13-2002;IEC 60749-13 CORR 1-2003 |
| 引用标准： |
IEC 60749-14-2003 |
| 内容提要（EN）： |
Climate;Climatic tests;Components;Corrosion;Destructive testing;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental testing;Integrated circuits;Mechanical testing;Salt mist;Semiconductor devices;Semiconductors;Testing |
| 归属： |
国际 |
