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 ICS国际标准分类  
01  BS EN 62047-20-2014 发布日期:2014-10-31  实施日期:2014-10-31
半导体器件. 微型机电装置. 陀螺仪
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Gyroscopes
参考页数:56P.;A4
02  BS EN 62047-26-2016 发布日期:  实施日期:2016-05-31
半导体器件. 微型机电装置. 微槽和针孔结构的描述和测量方法
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Description and measurement methods for micro trench and needle structures
参考页数:34P.;A4
03  BS EN 60747-16-5-2013 发布日期:2013-09-30  实施日期:2013-09-30
半导体装置.微波集成电路.振荡器
Semiconductor devices. Microwave integrated circuits. Oscillators
参考页数:44P;A4
04  BS EN 62477-1-2012 发布日期:2012-10-31  实施日期:2012-10-31
电力电子转换器系统和设备的安全性要求.总论
Safety requirements for power electronic converter systems and equipment. General
参考页数:190P;A4
05  BS EN 62047-8-2011 发布日期:2011-06-30  实施日期:2011-06-30
半导体装置.微电机装置.薄膜拉伸性能测量用带材弯曲试验方法
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
参考页数:22P.;A4
06  BS EN 62258-2-2011 发布日期:2011-07-31  实施日期:2011-07-31
半导体压模制品.交换数据格式.
Semiconductor die products. Exchange data formats
参考页数:74P.;A4
07  BS IEC 60747-14-4-2011 发布日期:2011-02-28  实施日期:2011-02-28
半导体器件.分立器件.半导体加速器
Semiconductor devices. Discrete devices. Semiconductor accelerometers
参考页数:102P;A4
08  BS IEC 62047-30-2017 发布日期:2017-10-09  实施日期:2017-10-31
半导体器件. 微机电设备. MEMS压电薄膜机电转换特性的测量方法
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film
参考页数:22P.;A4
09  BS EN 62047-4-2010 发布日期:2010-11-30  实施日期:2010-11-30
半导体装置.微电机装置.微电子机械系统(MEMS)一般规格
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Generic specification for MEMS
参考页数:24P.;A4
10  BS EN 62258-1-2010 发布日期:2010-11-30  实施日期:2010-11-30
半导体压模产品.采购和使用
Semiconductor die products. Procurement and use
参考页数:48P;A4
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