| 标准号： |
IEC 62047-19-2013 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19: Electronic compasses |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2013-07 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47F |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs microélectromécaniques – Partie 19: Compas électroniques (Edition 1.0) |
| 页数： |
60P;A4 |
| 附注： |
History:IEC 62047-19 (2013-07);IEC 47F/156/FDIS (2013-04);IEC 47F/117/CDV (2012-01);IEC 47F/88/CD (2011-07) |
| 被代替标准： |
IEC 47F/156/FDIS-2013 |
| 采用关系： |
BS EN 62047-19-2013,IDT;EN 62047-19-2013,IDT |
| 内容提要（CN）： |
自动化;通信技术;罗盘;元部件;定义;电气工程;电性能;机电的;电子的;环境;总规范;信息处理;信息技术;极限(数学);磁的;材料;测量技术;微电子学;微系统工艺;显微技术;移动的;参数;特性;半导体器件;传感器;规范(验收);系统工程;薄膜 |
| 内容提要（EN）： |
Automation;Communication technology;Compasses;Components;Definitions;Electrical engineering;Electrical properties;Electromechanical;Electronic;Environment;Generic specification;Information processing;Information technology;Limits (mathematics);Magnetic;Materials;Measuring techniques;Microelectronics;Microsystem techniques;Microtechnique;Mobile;Parameters;Properties;Semiconductor devices;Sensors;Specification (approval);System engineering;Thin films |
| 内容提要（QT）： |
Anforderung;Automatisierung;Bauteil;Begriffe;Definition;Dünnschicht;Eigenschaft;elektrische Eigenschaft;elektromechanisch;elektronisch;Elektrotechnik;Fachgrundspezifikation;Grenzwert;Halbleiterbauelement;Informationstechnik;Informationsverarbeitung;Kenngr？？e;Kompass;magnetisch;Messverfahren;Mikroelektronik;Mikrosystemtechnik;Mikrotechnik;mobil;ortsver？nderlich;Sensor;Systemtechnik;Umgebung;Werkstoff |
| 归属： |
国际 |
