| 标准号： |
IEC 60747-14-4-2011 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 14-4: Semiconductor accelerometers |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>敏感元器件及传感器 |
| 发布日期： |
2011-01 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2011-01 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47E |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets – Partie 14-4: Accéléromètres à semiconducteurs (Edition 1.0) |
| 页数： |
202P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-14-4 (2011-01);IEC 47E/405/FDIS (2010-10);IEC 47E/277/CDV (2005-01);IEC 47E/239/CDV (2003-06) |
| 被代替标准： |
IEC 47E/405/FDIS-2010 |
| 引用标准： |
IEC 60747-1-2006;IEC 60749;IEC 60749-1;IEC 60749-5;IEC 60749-6;IEC 60749-10;IEC 60749-11;IEC 60749-12;IEC 60749-13;IEC 60749-25;IEC 61000-4;IEC 61000-4-2-1995;IEC 61000-4-3-2006;IEC 61000-4-4-2004;ISO 5347;ISO 5347-11-1993;ISO/IEC Guide 99 |
| 采用关系： |
C96-014-4PR,IDT |
| 内容提要（CN）： |
加速度;加速计;校准;组件;定义(术语);分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;集成电路;字母符号;寿命;作标记;测量;测量技术;可靠度;半导体器件;半导体;灵敏度;符号;试验 |
| 内容提要（EN）： |
Acceleration;Accelerometers;Calibration;Components;Definitions;Discrete devices;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Inspection;Integrated circuits;Letter symbol;Life (durability);Marking;Measurement;Measuring techniques;Reliability;Semiconductor devices;Semiconductors;Sensitivity;Symbols;Testing |
| 内容提要（QT）： |
Bauelement;Begriffe;Beschleunigung;Beschleunigungsmesser;Buchstabenkurzzeichen;Definition;Einzelbauelement;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Empfindlichkeit;Halbleiter;Halbleiterbauelement;integrierte Schaltung;Kalibrierung;Kennzeichnung;Kurzzeichen;Lebensdauer;Messung;Messverfahren;Prüfung;Prüfverfahren;Qualit？tsprüfung;Symbol;Zuverl？ssigkeit |
| 归属： |
国际 |
