电话: 400-090-1985/010-61272284 注册/登陆 | 购物车 | 标准化动态标准知识政策法规

网站首页
翻译版标准查询
标准查询
网上书店
分类查询标准  │  进口原版展示  │  翻译成果:中国标准英文版/外国标准中文版  │  数据库共享  │  公益下载  │  标准公告  │  本站资讯│ 在线咨询
站内搜索 高级搜索
热门搜索词:
" %>
网站首页 >> 外国标准>> IEC 62830-3-2017
 标准分类 Standards  
翻译标准
中国标准
更多详情见>>>
外国标准
更多详情见>>>
ICS国际标准分类法
77 、冶金
45 、铁路工程
01、综合、术语学、标准化、文献
03 、社会学、 服务、公司(企业)的组织和管理、行政、运输
07 、数学、自然科学
11 、医药卫生技术
13 、环保、保健与安全
17 、计量学和测量、物理现象
19 、试验
21 、机械系统和通用件
更多详情见>>>
CCS中国标准分类
AA、外国标准中文版/中国标准英文版
A、综合
B、农业林业
C、医药卫生劳动保护
D、矿业
E、石油
F、能源核技术
G、化工
H、冶金
J、机械
更多详情见>>>
中文名称:半导体器件. 收集和产生能量的半导体器件. 第3部分: 基于振动的电磁能量收集
标准号:IEC 62830-3-2017
标准号: IEC 62830-3-2017
英文名称: Semiconductor devices - Semiconductor devices for energy harvesting and generation - Part 3: Vibration based electromagnetic energy harvesting
中标分类 电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合
发布日期: 2017-03
发布单位: IX-IEC
标准状态 请与本站工作人员进行确认
ICS分类 半导体器件综合>>半导体器件综合
正文语言 双语(英,法)
原文名称: Halbleiterbauelemente - Halbleiterbauelemente für das Energy-Harvesting und die Energieerzeugung - Teil 3: Schwingungsbasiertes elektromagnetisches Energy-Harvesting
页数: 42P.;A4
附注: History:IEC 62830-3 (2017-03);IEC 47/2363/FDIS (2017-01);IEC 47/2232/CDV (2015-06);IEC 47/2198/CD (2014-04)
被代替标准: IEC 47/2363/FDIS-2017
引用标准: IEC 60749-5-2003;IEC 60749-10-2002;IEC 60749-12-2002
采用关系: BS IEC 62830-3-2017,IDT
内容提要(QT): Bauelement;Begriffe;Definition;elektrische Messung;elektromagnetisch;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Energie;Energiegewinnung;Energiewandler;erneuerbare Energie;Halbleiter;Halbleiterbauelement;integrierte Schaltung;mechanische Prüfung;Nachhaltigkeit;piezoelektrisches Bauteil;Prüfung;Prüfverfahren;Schwingung;Vibration
归属: 国际
下载:“半导体分立器件综合”相关标准(下载...)

ASTM D3004-2008(2013) 挤制热固性和热塑性半导体和绝缘屏蔽的标准规范  
ASTM F615M-1995(2013) 测定在半导体元件上喷镀金属的安全电流脉冲操作区域的标准实施规范 (米制)  
ASTM E1161-2009(2014) 半导体和电子元件射线检验的标准实施规程  
ASTM D3004-2008(2013) 挤制热固性和热塑性半导体和绝缘屏蔽的标准规范  
ASTM F615M-1995(2013) 测定在半导体元件上喷镀金属的安全电流脉冲操作区域的标准实施规范 (米制)  
ASTM E1161-2009(2014) 半导体和电子元件射线检验的标准实施规程  
IEC 60749-17-2019 半导体器件. 机械和气候试验方法. 第17部分: 中子辐照  
IEC 60749-17-2019 半导体器件. 机械和气候试验方法. 第17部分: 中子辐照  
ISO/TS 11308-2011 纳米技术.热重量分析法测定单层壁碳纳米管的特性  
ISO/TS 11888-2017 纳米技术.根据细观形状因数确定多层壁碳纳米管的特性  

 

下载“半导体器件综合”相关标准(下载...)

BS IEC 62047-29-2017 半导体器件. 微型机电设备. 室温下独立导电薄膜的机电弛豫试验方法  
BS EN 62258-1-2010 半导体压模产品.采购和使用  
BS EN 62047-2-2006 半导体器件.微型机电器件.薄膜材料的拉伸试验方法  
IEC 60747-14-5-2010 半导体器件.第14-5部分:半导体传感器.PN-结点半导体温度传感器  
IEC 60747-14-1-2010 半导体器件.第14-1部分:半导体传感器.传感器用总规范  
IEC 62258-1-2009 半导体压模产品.第1部分:采购和使用  
IEC 60747-14-4-2011 半导体器件.分立器件.第14-4部分:半导体感应器  
IEC 62830-3-2017 半导体器件. 收集和产生能量的半导体器件. 第3部分: 基于振动的电磁能量收集  

站内搜索 高级搜索
热门搜索词:
购买方式
线下订购
会员服务
会员服务
数据更新
增值服务
付款方式
对公转帐
发货方式
配送及资费
检索帮助
站内检索
售后服务
退换货原则
帮助中心
签收注意事项
乘车/自驾路线
京ICP备案信息

| 企业资质+信用中国商誉诚信报告 | 联系我们 |

客服专线:400-090-1985 13341091871 E-mail:543060174@QQ.com;
QQ:543060174(兼微信) / 327814406

Copyright 2009~2035 Beijing Zhong Pu Ke Biao Books Co., Ltd All Rights Reserved
北京中普科标图书有限责任公司 版权所有
工作时间:星期一~星期五 早:9:00至晚5:30
正版API ASME ASTM ISO NACE BS DIN IEC UL NFPA标准查阅:http://www.stdbook.cn
京ICP备11006165号 / 京公网安备11011502002443 / 新出发京零字第大070032号