| 标准号： |
IEC 60747-14-5-2010 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Part 14-5: Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>敏感元器件及传感器 |
| 发布日期： |
2010-02 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47E |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs – Partie 14-5: Capteurs à semiconducteurs – Capteur de température à semiconducteurs à jonction PN (Edition 1.0) |
| 页数： |
37P;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-14-5 (2010-02);IEC 47E/390/FDIS (2009-11);IEC 47E/370/CDV (2008-09);IEC 47E/353/CD (2007-12);IEC 47E/326/CD (2007-04) |
| 被代替标准： |
IEC 47E/390/FDIS-2009 |
| 引用标准： |
IEC 60747-14-1-2010;IEC 60749-5-2003;IEC 60749-6-2002 |
| 采用关系： |
BS IEC 60747-14-5-2010,IDT |
| 内容提要（CN）： |
组件;定义;尺寸选定;分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;集成电路;布置;作标记;测量;测量技术;光电子器件;特性;额定值;可靠度;半导体器件;半导体;传感器;规范(验收);符号;温度;试验 |
| 内容提要（EN）： |
Components;Definitions;Dimensioning;Discrete devices;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Inspection;Integrated circuits;Layout;Marking;Measurement;Measuring techniques;Optoelectronic devices;Properties;Ratings;Reliability;Semiconductor devices;Semiconductors;Sensors;Specification (approval);Symbols;Temperature;Testing |
| 内容提要（QT）： |
Anforderung;Anordnung;Bauelement;Begriffe;Bemessung;Definition;Eigenschaft;Einzelbauelement;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Halbleiter;Halbleiterbauelement;integrierte Schaltung;Kennwert;Kennzeichnung;Kurzzeichen;Messung;Messverfahren;optoelektronische Baueinheit;Prüfung;Prüfverfahren;Qualit？tsprüfung;Sensor;Symbol;Temperatur;Zuverl？ssigkeit |
| 归属： |
国际 |
