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中文名称:半导体装置.微机电装置.第4部分:MEMS的总规范.
标准号:NF C96-050-4-2011
标准号: NF C96-050-4-2011
英文名称: Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4 : generic specifications for MEMS.
中标分类 电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合
发布日期: 2011-09-01
发布单位: FR-AFNOR
标准状态 请与本站工作人员进行确认
实施日期: 2011-09-10
ICS分类 半导体器件综合>>半导体器件综合
正文语言 其他
原文名称: Dispositifs ? semiconducteurs. Dispositifs microélectromécaniques. Partie 4 : spécification générique pour les MEMS
页数: 25P;A4
采用关系: EN 62047-4-2010,IDT;IEC 62047-4-2008,IDT
内容提要(EN): Automation;Bus systems;Classification systems;Communication technology;Components;Data bus;Electrical engineering;Electrical properties;Electromechanical;Environment;Generic specification;Information processing;Information technology;Materials;Measuring techniques;Mechanical properties;Microelectronics;Microsystem techniques;Microtechnique;Optical properties;Parameters;Properties;Quality assessment;Semiconductor devices;Specification (approval);Symbols;System engineering;Tensile strain;Tensile testing;Testing;Testing conditions;Testing devices;Thin films;Thin-film technology
归属: 法国
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ASTM D3004-2008(2013) 挤制热固性和热塑性半导体和绝缘屏蔽的标准规范  
ASTM F615M-1995(2013) 测定在半导体元件上喷镀金属的安全电流脉冲操作区域的标准实施规范 (米制)  
ASTM E1161-2009(2014) 半导体和电子元件射线检验的标准实施规程  
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IEC 60749-17-2019 半导体器件. 机械和气候试验方法. 第17部分: 中子辐照  
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ISO/TS 11308-2011 纳米技术.热重量分析法测定单层壁碳纳米管的特性  
ISO/TS 11888-2017 纳米技术.根据细观形状因数确定多层壁碳纳米管的特性  

 

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BS EN 62047-11-2013 半导体器件. 微型机电装置. 微型机电装置用无需支撑物材料线性热膨胀系数试验方法  
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BS EN 62047-13-2012 半导体设备.微型机电装置.MEMS结构用测量粘合强度的弯曲和切变型式试验方法  
BS EN 62047-9-2011 半导体装置.微电子机械装置.MEMS的晶圆与晶圆结合强度测量  
BS EN 62047-14-2012 半导体装置.微型电机装置.金属薄膜材料的成形极限测量方法  
BS EN 62047-12-2011 半导体装置.微型机电装置.使用MEMS结构的共振,薄膜材料的弯曲挠度试验方法  
BS EN 62047-7-2011 半导体装置.微电子机械装置.射频控制和选择所用的微电子机械系统(MEMS)声表面滤波器(BAW)和双工器  
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EN 62047-26-2016 半导体器件. 微型机电装置. 第26部分: 微槽和针孔结构的描述和测量方法(IEC 62047-26-2016); 德文版本EN 62047-26-2016  

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