| 标准号： |
NF C96-050-7-2011 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7 : MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection. |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2011-12-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
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| 实施日期： |
2011-12-30 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Dispositifs ? semiconducteurs. Dispositifs microélectromécaniques. Partie 7 : filtre et duplexeur BAW MEMS pour la commande et le choix des fréquences radioélectriques |
| 页数： |
31P;A4 |
| 采用关系： |
EN 62047-7-2011,IDT;IEC 62047-7-2011,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Characteristics;Components;Definitions;Duplex;Electrical engineering;Filters;High frequencies;Layers;Materials;Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Microsystem techniques;Properties;Samples;Semiconductor devices;System engineering;Testing;Testing conditions |
| 归属： |
法国 |
