| 标准号： |
IEC 62047-5-2011 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2011-07 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47F |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs microélectromécaniques – Partie 5: Commutateurs MEMS-RF (Edition 1.0) |
| 页数： |
69P;A4 |
| 附注： |
History:IEC 62047-5 (2011-07);IEC 47F/83/FDIS (2011-04);IEC 47F/41/CDV (2010-01);IEC 47F/29C/CDV (2009-12);IEC 47F/29B/CDV (2009-09);IEC 47F/29A/CDV (2009-08);IEC 47F/29/CDV (2009-08);IEC 47F/14/CD (2008-12);IEC 47/1928/CD (2007-09) |
| 被代替标准： |
IEC 47F/83/FDIS-2011 |
| 引用标准： |
IEC 60747-1-2006;IEC 60747-16-1-2001;IEC 60747-16-4-2004;IEC 60749-5-2003;IEC 60749-10-2002;IEC 60749-12-2002;IEC 60749-27-2006 |
| 采用关系： |
EN 62047-5-2011,IDT |
| 增补： |
IEC 62047-5 Corrigendum 1-2012 |
| 内容提要（CN）： |
特征;组件;定义(术语);电气工程;高频;层;材料;测量;测量技术;微电子学;微系统工艺;性能;半导体器件;开关;系统工程;试验条件 |
| 内容提要（EN）： |
Characteristics;Components;Definitions;Electrical engineering;High frequencies;Layers;Materials;Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Microsystem techniques;Properties;Semiconductor devices;Switches;System engineering;Testing conditions |
| 内容提要（QT）： |
Anwendung;Bauteil;Begriffe;Definition;Eigenschaft;Elektrotechnik;Halbleiterbauelement;HF;Hochfrequenz;Merkmal;Messung;Messverfahren;Mikroelektronik;Mikrosystemtechnik;Prüfbedingung;Prüfung;Prüfverfahren;Schalter;Schicht;Systemtechnik;Werkstoff |
| 归属： |
国际 |
